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18922517093Product center
profid劃痕測(cè)試儀在鉛筆硬度測(cè)試上的運(yùn)用
也稱為劃痕測(cè)試。該測(cè)試通過(guò)在樣品上按壓觸點(diǎn)并刮擦來(lái)測(cè)量表面硬度。
根據(jù)樣品類型和要分析的元素，有多種測(cè)試方法。
這是 JIS 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的廣泛使用的測(cè)試。
在一定條件下將鉛筆壓在樣品上并刮擦。按軟硬程度順序刮擦芯子，看是否被劃傷。
智能手機(jī)等保護(hù)膜上所寫的“9H硬度"是指“即使用9H鉛筆劃傷也不會(huì)劃傷的硬度"。
刮擦的方法（鉛筆壓力、速度、距離等）由JIS定義，但由于刮擦動(dòng)作最終是用手執(zhí)行的，因此根據(jù)操作者的不同可能會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。
*JIS 編號(hào) K5600-5-4
*建設(shè)中
*建設(shè)中
*建設(shè)中
?光澤劃痕
/美白劃痕
劃痕測(cè)試
負(fù)載增加/恒定負(fù)載（符合ASTM規(guī)格/ISO標(biāo)準(zhǔn)）
負(fù)載：1N至30N
速度：10mm/sec至100mm/sec
距離：20mm至100mm
往復(fù)運(yùn)動(dòng)：100次 *僅恒定負(fù)載
樣品：50mm x 150mm *板狀物體
基本規(guī)格
?
主機(jī)、PC?
操作
體觸摸屏
用PC軟件（實(shí)時(shí)圖形繪制、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)）
?劃痕芯片
1mm球尖*可提供其他選項(xiàng)
劃痕測(cè)試
負(fù)載增加/恒定負(fù)載（符合ASTM規(guī)格/ISO標(biāo)準(zhǔn)）
負(fù)載：1N至50N
速度：10mm/sec至200mm/sec
距離：20mm至160mm
往復(fù)運(yùn)動(dòng)：100次 *僅恒定負(fù)載
樣品：50mm x 150mm *板狀物體
基本規(guī)格
?
主體、PC
?主體尺寸
500 x 500 x 300 mm 40 kg
?用于操作
主體觸摸屏的
PC 軟件（實(shí)時(shí)圖形繪制、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)）
?劃痕芯片
1mm 球芯片 *可提供其他選項(xiàng)
劃痕測(cè)試
?負(fù)載增加/恒定負(fù)載（ASTM規(guī)格/ISO標(biāo)準(zhǔn)）
負(fù)載：1N至30N
速度：10mm/sec至300mm/sec
距離：30mm至100mm
往復(fù)運(yùn)動(dòng)：10次 *僅恒定負(fù)載
樣品：最大150mm x 150mm *板狀物體
/橫切（埃里克森測(cè)試）
負(fù)載：1N 至 30N
速度：10mm/秒至 300mm/秒
距離：40 x 40mm/50 x 50mm
測(cè)量間距：1mm/2mm
樣品：最大 150mm x 150mm *板狀物體
基本規(guī)格
?
主機(jī)、PC
?本體尺寸
500 x 500 x 400 mm 30 kg
?
用于操作的 PC 軟件（測(cè)試操作、實(shí)時(shí)圖形繪制、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)）
?劃痕芯片
1mm 球尖 *可提供其他選項(xiàng)
